比表面积及孔隙率测定仪
产品名称: 比表面积及孔隙率测定仪
英文名称:
产品编号: JW-K
产品价格: 0
产品产地: 北京精微高博
品牌商标: 精微
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使用范围: null
北京精微高博科技开发中心
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JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪
精微高博公司研制系列比表面积分析仪、比表面积及孔径分布仪、BET法比表面积仪、比表面积测定仪等,技术参数如下:
主机功能: (1)吸(脱)附等温曲线测定
(2)孔径分布测定
(3)BET比表面测定,并可测定吸附常数C 值
(4)比表面快速测定(直接对比法)
测定范围: (1)孔径:2nm~200nm (2) 比表面:0.1~3500㎡/g
测量原理: 动态常压连续氮吸附法(国内首创)
气体: 高纯氮(99.99%)、高纯氦(99.99%)
气体流量: ≤100mL/min
流量控制: 稳压稳流系统,高精度流量传感器,数字显示,显示精度0.1%
测量压力: 常压
氮气相对压力:调节范围 0.05-0.98
测量重复精度:≤±3%
测试时间: (1)BET比表面:平均每个样品30分钟
(2)孔径分布:平均每个样品3~4小时
(3)数据采集:恒流电路,气体浓度传感器工作站,放大及滤除杂波系统,采集速度100次/秒。