Vanta系列

X射线荧光分析仪
产品介绍
型号：Vanta VEL
版本号：2022年VantaVEL
 
1.主要用途：
手持式元素分析仪，用于矿业、地质、
土壤环境、底泥、沉积物中的有色金属
元素的快速分析测定。
 
2.应用领域：
地质勘查：多元素现场快速分析，可广泛应用于普查、详查的各过程，追踪矿化异常
扩展勘查范围。可大大减少送回实验室样品检测的数量，从而节约运输和分析费用
 
岩心检测：快速分析岩心和其它钻探样品，建立矿山三维图，分析储量，可大大提高钻探现场即时决策效率
 
开采过程控制：矿体边界圈定，矿脉走向判定，对开采过程进行精确管理，和控制，对矿石品位进行随时检测
 
品位控制：对精矿、矿渣、尾矿等矿物品位进行精确快速分析，为矿物贸易、加工以及再利用提供价值判定依据
 
环境分析：快速对矿山周围环境、尾矿、粉尘、土壤污染物等进行分析与检测，评估矿山环境修复效果
 
3.工作条件:
3.1 环境要求：温度为-10~50℃，相对湿度10~90%(无冷凝)，工作场地附近不能有强磁场、强振动源及高频设备。
 
4. 技术参数及要求：
 
4.1检测元素：可用于矿石、土壤环境中
 
Vanta分析仪的技术规格
外型尺寸（宽 × 高 × 厚）
 
8.3 × 28.9 × 24.2 cm
重量 带电池时1.54公斤；不带电池时1.32公斤。
激励源 4瓦特X射线管，35 kV钨阳极靶材
主光束滤波 固定的铝制滤波片
探测器 Si-PIN探测器
电源 14.4 V可拆卸锂离子电池，或者18 V电源变压器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz, 最大70 W
显示 800 × 480（WVGA）电容式液晶显示触摸屏，可使用手指进行控制
操作环境 温度：−10 °C ～ 45 °C，100%占空比
湿度：10 %　～　90 %相对湿度，非冷凝
坠落测试 通过了美军标准810-G中的从4英尺（1.22米）高处跌落的测试
IP评级和探测器快门闸保护 IP54：防尘，而且可经受来自各个方向的水溅
操作系统 Linux
数据存储 microSD插槽，并提供1 GB工业用可插拔SD卡
USB （2个）USB 2.0 A型主端口，用于诸如无线局域网、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。
（1个）USB 2.0袖珍B型端口，用于连接计算机。
无线局域网 通过可选配的USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）无线局域网功能
蓝牙 通过可选配的USB适配器，支持蓝牙功能